Scientific journal
Advances in current natural sciences
ISSN 1681-7494
"Перечень" ВАК
ИФ РИНЦ = 0,775

В работе представлены статистические исследования уровня микроускорений, возникающих на борту орбитального космического аппарата во время проведения технологических процессов. Условия, накладываемые на уровень микроускорений для успешного проведения этих процессов, называемые микрогравитационным штилем, являются достаточно жесткими. Особенно это касается квазистатической компоненты микроускорений [1].

Моделирование микроускорений на нынешнем этапе развития космического материаловедения играет, пожалуй, более важную роль, чем даже натурные испытания из-за сложности измерения микроускорений [2].

В работе выявлено, что с учетом демпфирования собственных колебаний упругих элементов изменения уровня микроускорений во времени имеет гамма-распределение, если не учитывать демпфирование, то это распределение становится нормальным. Принципиальная разница заключается в том, что некоторые космические аппараты, например, серия «Фотон» не имеют больших упругих элементов таких, как панели солнечных батарей, поэтому в этом случае нет и демпфирования колебаний.

Для моделирования уровня микроускорений с помощью фрактальной функции Вейерштрасса-Мандельброта, рассмотренного в работах [3], [4], определены статистические параметры: математическое ожидание, дисперсия, функция распределения и т.д. Результаты моделирования сравнивались с результатами натурных экспериментов на борту орбитальной станции «Мир», а также космических аппаратов серии «Фотон» и «Спот». Сделаны выводы о возможности моделирования микроускорений с помощью фрактальной функции Вейерштрасса-Мандельброта

 Вейерштрасса - Мандельброта Вейерштрасса-Мандельброта.

СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ

  1. А.А.Авраменко, А.В.Седельников. Моделирование поля остаточной микрогравитации на борту орбитального КА // Изв. вузов Авиационная техника. - 1996.- №4. - с. 22 - 25.
  2. А.В.Седельников, Е.А.Ефимова. Учет влияния упругости узла крепления упругих элементов космического аппарата на оценку уровня микроускорений внутри рабочей зоны технологического оборудования при моделировании условий для технологических процессов//Сборник статей III-й Всероссийской научной конференции Инновации в машиностроении. - Пенза. - 2003. - с. 115-117
  3. А.В.Седельников, А.В.Бязина. Использование фракталов в математическом моделировании // Сборник научных трудов в Самарском филиале УРАО. - вып. 2-3. - Самара. - 2002. - с. 72 - 85.
  4. А.В.Седельников, А.В.Бязина, Н.Ю.Антипов. Использование функции Вейерштрасса-Мандельброта для моделирования микроускорений на борту КА // Сборник научных трудов X Всероссийского научно-технического семинара по управлению движением и навигации ЛА. - Самара. - 2002. - с. 124-128.