Интерференционные измерения активно применяют в сфере нанотехнологий, причем чувствительность классических интерференционных методов недостаточна. Разработанные ранее автором [1-3] методы повышения чувствительности измерений, к сожалению, могут быть использованы только апостериорно.
Наиболее точный интерференционный прибор – интерферометр Фабри-Перо может быть использован только в проходящем свете. Работа в отраженном свете возможна только при использовании так называемого согласованного переднего зеркала, которое является асимметричным. К недостаткам таких зеркал относят изменение со временем первоначальных характеристик покрытия.
Автором данной работы предложен и запатентован [4] иной принцип инвертирования многолучевой интерференционной картины – физическое разложения амплитуды светового колебания в ряд и отфильтровывание нулевой составляющей при помощи диафрагмы.
Цель исследования. В настоящей работе кратко излагаются возможности применения метода инвертирования интерференционных полос при помощи низкокогерентного полупроводникового лазера на кристалле титанила-фосфата калия..
Материал и методы исследования. Для проведения исследований был собран двухлучевой интерферометр Майкельсона, в качестве источника излучения использовался полупроводниковый лазер с длиной волны 546 нм и выходной мощностью 500 мВт.
Результаты исследования и их обсуждение. В результате проведенных экспериментов при помощи полупроводникового лазера была получена многолучевая интерференционной картины с инвертированным распределением интенсивностей и резкостью полос более 10. Наиболее полно результаты исследований представлены в источниках [5,6].